国内半导体企业专利动态：恒烁、兆易创新、中科飞测新进展
近期，多家国内半导体企业在专利领域取得新进展。其中，恒烁半导体公布了一项关于AI设备电源控制电路的专利；兆易创新获得一项“延时测试电路和探针结构”专利授权；中科飞测则公开了一项新型“检测系统”专利。
1. 兆易创新“延时测试电路和探针结构”专利授权
天眼查信息显示，兆易创新于2024年12月13日获得授权的专利（授权公告号：CN222167160U），申请日期为2024年3月5日。该专利涉及一种新型延时测试电路和探针结构，应用于半导体测试领域。
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该专利技术方案利用并联的两个测试支路，通过比较两个支路输出交流信号的相位和频率差异，实现更精确的延时测试。
2. 兆易创新“延时测试电路和探针结构”专利授权（重复信息，已在上文提及）
（此部分内容与上文重复，此处略去）
3. 中科飞测“检测系统”专利公开
深圳中科飞测科技股份有限公司于2024年12月13日公开了一项名为“检测系统”的专利申请（申请公布号：CN119125168A）。该专利旨在解决泵浦光噪声对样品检测精度的影响。
该专利技术方案通过光源组件发出探测光和泵浦光，利用分光组件将泵浦光分为信号光和参考光。系统中的信号处理模块，特别是第一除噪组件，能够根据泵浦参考光的噪声频域信息，有效去除检测信号光中的噪声，最终提高样品检测的准确性。
总结: 以上专利技术的公布和授权，体现了国内半导体企业在技术创新方面的持续投入，也预示着中国半导体产业链的不断完善和壮大。
